温度・湿度・低圧総合試験

テストプロファイル:
温度/湿度/低圧の包括的なテストは、主に製品が温度/湿度/低圧環境での保管または作業の能力に耐えられるかどうかを判断するために使用されます。高高度での保管または作業、航空機の加圧または非加圧キャビンでの輸送または作業、航空機外への輸送、急速または爆発的な減圧環境への暴露など。

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製品に対する低気圧の主な危険性は次のとおりです。
▪製品の変形、損傷または破裂、低密度材料の物理的および化学的特性の変化、熱伝達の低下などの物理的または化学的影響により、機器が過熱し、シーリングが失敗します。

▪アーク放電などの電気的影響により、製品の故障や不安定な動作が発生します。

▪低圧ガスと空気の誘電特性の変化などの環境影響は、テストサンプルの機能と安全性能の変化につながります。大気圧が低い場合、特に高温と組み合わせると、空気の絶縁耐力が大幅に低下し、アーク放電、表面放電、またはコロナ放電のリスクが高まります。低温または高温による材料特性の変化は、低気圧下での密閉された機器またはコンポーネントの変形または破裂のリスクを高めます。

テストオブジェクト:
航空宇宙機器、高高度電子製品、電子部品またはその他の製品

テスト項目:
低圧試験、高温・低圧、低温・低圧、温度・湿度・低圧、急減圧試験等。

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試験基準:
GB / T 2423.27-2020環境テスト–パート2:
試験方法とガイドライン:温度/低圧または温度/湿度/低圧の包括的な試験
IEC 60068-2-39:2015環境テスト–パート2-39:
試験方法とガイドライン:温度/低圧または温度/湿度/低圧の包括的な試験
GJB 150.2A-2009軍用機器の実験室環境試験方法パート2:
低圧(高度)テスト
MIL-STD-810H米国国防総省の試験方法基準

試験条件:

一般的なテストレベル

温度(℃)

低圧(kPa)

テスト期間(h)

-55

5

2

-55

15

2

-55

25

2

-55

40

2

-40

55

2または16

-40

70

2または16

-25

55

2または16

40

55

2

55

15

2

55

25

2

55

40

2

55

55

2または16

55

70

2または16

85

5

2

85

15

2

試験期間:
通常のテストサイクル:テスト時間+3営業日
上記は営業日であり、機器のスケジュールは考慮されていません。

試験装置:
機器名:低圧試験室

機器パラメータ:温度:(-60〜100)℃、

湿度:(20〜98)%RH、

空気圧:常圧〜0.5kPa、

温度変化率:≤1.5℃/分、

減圧時間:101Kpa〜10Kpa≤2min、

サイズ:(1000x1000x1000)mm;

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投稿時間:5月-18-2022